通过纠缠拓扑不变量表征二维系统中的二阶拓扑绝缘体

高阶拓扑绝缘体近年来引起了广泛关注。然而，识别能够表征高阶拓扑的通用拓扑不变量仍然具有挑战性。在这里，我们提出了一种纠缠拓扑不变量，用于表征二阶拓扑系统。该纠缠拓扑不变量通过采用双分纠缠熵方法，捕获开边界条件下拓扑角态的纠缠。在几个代表性模型中，纠缠拓扑不变量仅在二阶拓扑存在时取非零值，其大小恰好与拓扑保护的角态数量相匹配。因此，所提出的纠缠拓扑不变量不仅为检测高阶拓扑提供了明确标准，还为相关角态提供了定量度量。本研究建立了表征高阶拓扑相的通用且精确的方法，为其基础理解和未来研究开辟了途径。