用低能电子显微镜表征镍表面上的六方氮化硼层
介观与纳米尺度物理
2017-09-22 v2
摘要
利用低能电子显微镜（LEEM）研究了通过化学气相沉积在多晶镍箔上生长的六方氮化硼（hBN）薄膜的厚度和界面几何结构。在0-20 eV能量范围内测量的电子反射率显示出明显的最小值和最大值。将测量数据与基于材料电子结构第一性原理描述的模拟结果进行了比较。通过这种比较，推断出hBN的层数以及最底层hBN与镍表面之间的间距。讨论了hBN层间态与镍的镜像势态和肖克利型表面态的耦合，并考察了反射率谱对镍晶粒表面取向的依赖性。
引用
@article{arxiv.1611.04844,
title = {Characterization of hexagonal boron nitride layers on nickel surfaces by low-energy electron microscopy},
author = {P. C. Mende and Q. Gao and A. Ismach and H. Chou and M. Widom and R. Ruoff and L. Colombo and R. M. Feenstra},
journal= {arXiv preprint arXiv:1611.04844},
year = {2017}
}
备注
v2, added fig 10 and Supplementary Material; total is 29 pages, 17 figures