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氧化镓中硼掺杂的第一性原理研究

材料科学 2020-07-07 v2

摘要

我们研究了在氧化镓(Ga2O3\text{Ga}_2\text{O}_3)中进行硼掺杂以实现中子探测的可行性。Ga2O3\text{Ga}_2\text{O}_3是一种宽带隙、抗辐射材料,如果能掺入中子活性元素,则具有中子探测的潜力。我们研究了硼-10同位素作为一种可能的中子活性掺杂剂。利用半局域和杂化密度泛函理论计算,研究了Ga2O3\text{Ga}_2\text{O}_3中的本征缺陷和硼诱导缺陷。我们发现,在有利于硼掺入的生长条件下,硼替位缺陷很可能形成,这使得Ga2O3\text{Ga}_2\text{O}_3的硼掺杂具有可行性。

关键词

引用

@article{arxiv.1910.07371,
  title  = {Boron doping in gallium oxide from first principles},
  author = {Jouko Lehtomäki and Jingrui Li and Patrick Rinke},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1910.07371},
  year   = {2020}
}

备注

9 pages, 7 figures, 5 tables