面板单位根检验局部势的统一方法

Zhongwen Liang

面板单位根检验局部势的统一方法

计量经济学 2017-10-10 v1 统计计算统计方法学

作者: Zhongwen Liang

摘要

本文提出了一种统一方法，用于推导面板单位根检验的精确局部渐近势，这是非平稳面板数据文献中最重要的问题之一。我们系统地研究了两种最广泛使用的面板单位根检验——Levin-Lin-Chu（LLC, Levin, Lin and Chu (2002)）检验和 Im-Pesaran-Shin（IPS, Im, Pesaran and Shin (2003)）检验——在各种情形下的表现，以说明我们的方法。我们的方法基于特征函数，可直接用于推导这些检验统计量在原假设和局部至单位根备择假设下渐近分布的矩。对于 LLC 检验，该方法提供了获得可由现有方法推导结果的替代途径。对于 IPS 检验，我们获得了新结果，填补了文献中因 IPS 检验不可容许而鲜有结果的空白。此外，我们的方法在推导这些检验的 Edgeworth 展开方面具有优势，文中也给出了这些展开。模拟结果展示了我们的理论发现。

关键词

面板单位根检验局部渐近势 Levin-Lin-Chu 检验 Im-Pesaran-Shin 检验特征函数 Edgeworth 展开非平稳面板数据

引用

@article{arxiv.1710.02944,
  title  = {A Unified Approach on the Local Power of Panel Unit Root Tests},
  author = {Zhongwen Liang},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1710.02944},
  year   = {2017}
}

备注

67 pages, 1 figure

面板单位根检验局部势的统一方法

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关键词

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