Bai 和 Ng (2004) 与 Moon 和 Perron (2004) 面板单位根检验框架的局部渐近等价性
计量经济学
2019-05-28 v1
摘要
本文考虑具有由未观测因子产生的截面相关性的大 n 大 T 异质性面板中的单位根检验。我们重新考察文献中两种主流方法，即 Moon 和 Perron (2004) 的方法与 Bai 和 Ng (2004) 提出的 PANIC 设定。尽管这些方法被视为完全不同的设定，我们表明在高斯新息情形下，这些框架在渐近意义上是等价的，即两个实验均为局部渐近正态（LAN）且具有相同的中心序列。利用 Le Cam 的统计实验理论，我们确定了局部渐近功效包络并在两种设定下联合推导出一个最优检验。我们表明，流行的 Moon 和 Perron (2004) 与 Bai 和 Ng (2010) 检验仅当特异成分的长程方差不存在异质性时才达到功效包络。新检验渐近一致最功效，与可能的异质性无关。此外，对于任何满足温和正则条件的检验，两种数据生成过程下的尺寸和局部渐近功效是相同的。因此，应用研究者无需为进行单位根检验而在两种框架中择一。蒙特卡洛模拟证实了我们的渐近结果，并在截面单元间特异冲击方差差异显著时记录了有限的样本功效的显著提升。
引用
@article{arxiv.1905.11184,
title = {Local Asymptotic Equivalence of the Bai and Ng (2004) and Moon and Perron (2004) Frameworks for Panel Unit Root Testing},
author = {Oliver Wichert and I. Gaia Becheri and Feike C. Drost and Ramon van den Akker},
journal= {arXiv preprint arXiv:1905.11184},
year = {2019}
}