基于对称性的指标之推广变体
介观与纳米尺度物理
2019-08-01 v1 超导电性
摘要
基于对称性的指标 [H. C. Po, A. Vishwanath, H. Watanabe, Nat. Commun. 8, 50 (2017)] 是能带理论中诊断拓扑材料的一个实用工具。在本注记中，我们提出两个方向以将基于对称性的指标推广到其他类的拓扑材料。其一针对超导体。对原子绝缘体与平庸真空哈密顿量的仔细定义给出了超导体特有的基于对称性的指标。其二是针对带隙内边界态。用原子绝缘体群除以其某个子集（例如定域于原胞内部的那些原子绝缘体）所得的商群，给出了用于探测带隙内角态、铰链态与表面态的基于对称性的指标。
引用
@article{arxiv.1907.13632,
title = {Variants of the symmetry-based indicator},
author = {Ken Shiozaki},
journal= {arXiv preprint arXiv:1907.13632},
year = {2019}
}