调制掺杂石墨烯中的超锐利横向 $p\text{-}n$ 结
介观与纳米尺度物理
2022-06-01 v2
摘要
我们利用电子输运、扫描隧道显微镜和第一性原理计算,展示了石墨烯中超锐利()的横向 结。该 结位于石墨烯片差异掺杂区域的边界处,其中一侧为本征的,另一侧通过隔着薄绝缘势垒与 -RuCl 薄片邻近而实现电荷掺杂。我们提取器件电阻中 结的贡献以限定结宽度的边界。当本征区与掺杂区之间的边界由位于距石墨烯 2 nm 处的 -RuCl 解理晶体边缘定义时,我们实现了超锐利结。石墨烯、六方氮化硼与 -RuCl 异质结构中的扫描隧道谱显示了亚 10 nm 长度尺度上的电势变化。第一性原理计算揭示石墨烯的电荷掺杂从 -RuCl 薄片边缘起仅在数纳米内急剧衰减。
引用
@article{arxiv.2203.06295,
title = {Ultra-sharp lateral $p\text{-}n$ junctions in modulation-doped graphene},
author = {Jesse Balgley and Jackson Butler and Sananda Biswas and Zhehao Ge and Samuel Lagasse and Takashi Taniguchi and Kenji Watanabe and Matthew Cothrine and David G. Mandrus and Jairo Velasco and Roser Valentí and Erik A. Henriksen},
journal= {arXiv preprint arXiv:2203.06295},
year = {2022}
}