透射电子测角术及其与材料科学应用中电子断层扫描的关系
材料科学
2007-05-23 v2
摘要
讨论了透射电子测角术的各个方面。结合高分辨相位衬度透射电子显微镜(HRTEM)和原子分辨扫描透射电子显微镜(STEM)在原子序数衬度(Z-STEM)或相位衬度明场模式中，透射电子测角术提供了开发用于三维纳米晶体晶体学表征的专用方法的机会。简要讨论了透射电子测角术与材料科学应用中电子断层扫描之间的关系。提到了基于互联网的Java小程序，这些小程序有助于将透射电子测角术应用于具有校准倾斜旋转和双倾斜样品架/测角仪的三方晶系晶体。演示了所谓的立方最小倾斜程序，用于确定具有岩盐结构的亚化学计量WC1-x纳米晶体的晶格参数。简要讨论了自由(开放)访问的、基于互联网的晶体学开放数据库(COD)，因为确定纳米晶体晶格参数的能力为通过将这些晶格常数与综合数据库的条目进行比较来识别未知相提供了可能性。相应地，在COD中搜索确定的晶格参数作为屏幕截图的一部分显示。在具有像差校正电子光学的TEM(和STEM)中，透射电子测角术增强的可行性在WC1-x模型系统上得到了说明。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0611345,
title = {Transmission electron goniometry and its relation to electron tomography for materials science applications},
author = {Peter Moeck and Philip Fraundorf},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0611345},
year = {2007}
}
备注
9 pages, 3 figures, 2 tables, 50 references, 2 footnotes, significantly updated conference paper