aberration corrected high resolution transmission electron microscopy in materials science: fundamentals and applications
材料科学
2026-03-26 v1
摘要
本综述文章介绍了用于材料原子尺度结构表征的失透校正相位对比透射电子显微镜的基本原理。结构概念包括原子排列以及材料的电子结构信息。文章概述了关于色差、校正器、负Cs相位对比显微镜下的直接图像解释、与off-axis electron holography、electron ptychography、differential phase contrast microscopy等竞争性原子分辨率相位方法的比较讨论。此外，还介绍了在原子尺度上进行材料定量成像的各种实例，以及用于检索相位信息的图像仿真和重建方法。随着仪器和记录装置的飞速发展，本文概述了此类工具和方法在解决具有挑战性的材料科学问题方面的潜在前景。
引用
@article{arxiv.2603.23958,
title = {Fundamentals and applications of aberration corrected high resolution transmission electron microscopy in materials science},
author = {Ranjan Datta and Sneha Kobri M. and Sudip Mahato},
journal= {arXiv preprint arXiv:2603.23958},
year = {2026}
}