六方晶体原子分辨率图像中系统性失真的后验校正
材料科学
2025-11-25 v2
摘要
晶体的数字图像是从第三个空间维度投影而来，经任何实际显微镜记录的原子分辨率图像必然包含受欧几里得平面上平移周期性限制所导致的对称性破缺。这种破坏主要来自于成像过程和被成像晶体的真实结构，其中前者通常占主导。对此类图像中对称性破坏的后验算法性简化构成了纠正许多由成像过程引入的失真。因此，对称性的定量恢复可用于证明新实现的后验校正方法对六方晶体原子分辨率图像的有效性。最近发展的信息论方法在此问题上表现良好。本研究中，我们使用扫描隧道显微镜、原子力显微镜的扭转共振模式以及阿贝拉赫校正的平行照明透射电子显微镜获取的石墨和单层二硼化亚硅 (MoS2) 共计十三幅实验原子分辨率图像作为测试案例，纳入更大的（迄今为止尚未公开的）研究中。我们在此报告中引用其中的结果。用于本次失真校正和该研究全部报告的软件源代码已在 GitHub 上公开。
引用
@article{arxiv.2511.01940,
title = {Posterior corrections for systematic distortions in atomic-resolution images from hexagonal crystals},
author = {Tyler Bortel and Peter Moeck},
journal= {arXiv preprint arXiv:2511.01940},
year = {2025}
}
备注
6 pages, 6 figures Presented November 7, 2025 at IEEE-LANANO (https://ieee-lanano.org/) Accepted into the IEEE Xplore digital library