原子分辨率原位环境透射电子显微术与1埃像差校正原位电子显微术的进展
化学物理
2017-05-17 v1
摘要
描述了用于直接探测气固反应（包括极高温度下）的原子分辨率原位环境透射电子显微术的进展。此外，介绍了使用像差校正环境中的热台在埃尺度进行动态实时原位研究的最新进展。来自碳上Pt和Pd纳米颗粒的原位数据以及相应的FFT（光学衍射图）表明，在采用更宽间隙物镜极靴的双像差校正TEM和STEM仪器中，在500°C及更高温度下实现了0.11 nm的分辨率。这些新结果开辟了在像差校正环境中进行材料动态研究的机会。
引用
@article{arxiv.1705.05754,
title = {Advances in Atomic Resolution In Situ Environmental Transmission Electron Microscopy and 1 Angstrom Aberration Corrected In Situ Electron Microscopy},
author = {Pratibha Gai and Edward Boyes},
journal= {arXiv preprint arXiv:1705.05754},
year = {2017}
}