用于像差校正环境透射电子显微镜的在位光照明系统
材料科学
2021-05-20 v2
摘要
本工作中，设计、构建、表征并应用了一种基于光纤的、集成于像差校正环境透射电子显微镜（ETEM）的在位（in situ）照明系统。借助该照明系统，可在原子尺度直接观察光活性材料对光子的动态响应，并可同时施加加热及多种气体等其他激励。既可使用宽带光源，也可使用旨在加速光反应的高功率激光源，以适应不同的应用需求。光纤经由物镜光阑口进入 ETEM，其具有精心设计的曲率及尖端 30° 切角，以将出射光向上导向 TEM 样品。测量了宽带光源与激光源照射样品的强度分布，且由于分布不均匀，开发了一种将亮斑与 TEM 电子光轴对齐的对准流程。证明集成该照明系统后 ETEM 的成像与谱学性能得以保持。此外，在对 GaAs 施加在位激光照明时观察到 Langmuir 蒸发，展示了合适半导体材料上的光学加热现象。
引用
@article{arxiv.2104.02006,
title = {An $\textit{In Situ}$ Light Illumination System for an Aberration-Corrected Environmental Transmission Electron Microscope},
author = {Qianlang Liu and Barnaby D. A. Levin and Diane M. Haiber and Joshua L. Vincent and Peter A. Crozier},
journal= {arXiv preprint arXiv:2104.02006},
year = {2021}
}