通过应用漂移校正相移离轴电子全息术重建埃级分辨率出射波
材料科学
2024-04-19 v2
摘要
相移电子全息术是一种优异的方法，可在大范围空间频率上以极高相位灵敏度揭示电子波相位信息。它规避了标准离轴全息术中条纹间距与可见度之间的限制性权衡。先前的实现受限于双棱镜与样品的独立漂移。我们在此展示一种针对全息图序列的先进漂移校正方案，其利用全息图中TEM样品与真空区域的界面。通过向单个双棱镜施加250 V中等电压以获得1 {\AA}的条纹间距，该方案可在所用Titan 80-300 kV环境透射电子显微镜的1 {\AA}信息极限处获得高达2{\pi}/452的可靠相位信息。所获得的相位与振幅信息在薄Pt样品上通过使用冻结晶格近似的多片层图像模拟进行验证，并显示出极好的一致性。所提出的方法适用于任何配备至少一个电子双棱镜的TEM，从而能够在各种仪器（包括用于原位应用的仪器）中实现高分辨率离轴全息术。提供了用于采集、校准和重建的软件实现。
引用
@article{arxiv.2303.16054,
title = {Reconstruction of Angstrom resolution exit-waves by the application of drift-corrected phase-shifting off-axis electron holography},
author = {J. Lindner and U. Ross and T. Meyer and V. Boureau and M. Seibt and Ch. Jooss},
journal= {arXiv preprint arXiv:2303.16054},
year = {2024}
}
备注
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