高分辨透射电子显微镜中相位恢复的新见解与替代方案
材料科学
2021-03-02 v1
摘要
针对高分辨透射电子显微镜(HRTEM)中直接从记录的图像强度图样恢复物体出射波函数(OEW)的问题，提出了一种替代重建方法。该方法基于应用一个表示 HRTEM 图像的修正强度方程。对现有的 OEW 重建方法、离轴电子全息术与本文方案进行了比较讨论。从 MoS2、BN 和 ZnO 的实验图像中提取的相移与理论参考值极为吻合。此外，研究表明衍射图样的傅里叶级数展开可有效直接恢复特定形式的孤立与周期图像函数。然而，对于非周期物体信息（如缺陷、掺杂剂、边缘等），第一种方法可完整适用。
引用
@article{arxiv.2103.00538,
title = {Insights and alternative proposals on the phase retrieval in high resolution transmission electron microscopy},
author = {Usha Bhat and Ranjan Datta},
journal= {arXiv preprint arXiv:2103.00538},
year = {2021}
}