基于探测量子效率的HRTEM与叠层成像相位成像对比
材料科学
2025-09-19 v2
摘要
高分辨率透射电子显微镜（HRTEM）是在低温条件下对束敏感材料进行成像的重要方法。扫描透射电子显微镜（STEM）中的电子叠层成像已被证明能够以降低的通量重建此类材料的低噪声相位数据。这引出了一个问题：叠层成像还是HRTEM哪种成像技术更具通量效率。尽管传递函数是评估成像方法性能的常用指标，但它仅描述信号相对于空间频率的传递，而不考虑噪声传递。对于叠层成像等方法，它也无法被良好定义，因为这些方法使用算法来形成最终图像。在这里，我们将探测量子效率（DQE）的概念应用于电子显微镜，作为一种与通量和样品无关的技术性能度量。我们发现，对于弱相位物体，叠层成像永远无法达到完美泽尼克相位成像显微镜的效率，但叠层成像对部分相干性更为鲁棒。
引用
@article{arxiv.2509.12037,
title = {Detective quantum efficiency based comparison of HRTEM and ptychography phase imaging},
author = {Felix Bennemann and Angus I. Kirkland and David A. Muller and Peter Nellist},
journal= {arXiv preprint arXiv:2509.12037},
year = {2025}
}