半圆孔径照明扫描透射电子显微镜
光学
2025-01-28 v3 仪器与探测器
摘要
扫描透射电子显微镜（STEM）提供了对原子结构的高分辨率可视化，以及利用相位对比的各种功能成像模式。本研究在STEM亮场成像中引入半圆孔径，其相位对比传递函数变为复数，包含较低和较高空间频率的相位对比。该方法相对于传统相位板方法具有显著优势，无需相位板材料的电荷积累、退化或不必要的背景噪声问题。此外，与差分相位对比或ptychography设备相比，此半圆孔径成本更低。我们将此方法应用于聚合物、生物和磁性样品的可视化。
引用
@article{arxiv.2410.06871,
title = {Semicircular-aperture illumination scanning transmission electron microscopy},
author = {Akira Yasuhara and Fumio Hosokawa and Sadayuki Asaoka and Teppei Akiyama and Tomokazu Iyoda and Chikako Nakayama and Takumi Sannomiya},
journal= {arXiv preprint arXiv:2410.06871},
year = {2025}
}