用于纳米晶材料原子分辨率STEM成像的实空间倾转方法
材料科学
2024-06-04 v1
摘要
原子分辨率扫描透射电子显微镜（STEM）表征需要将样品精确倾转到高对称晶带轴，这通常通过遵循衍射图案在倒易空间中进行。然而，对于小尺寸纳米晶材料，其衍射图案过于微弱，无法指导倾转过程。本文基于Ronchigram中阴影图像的衍射衬度变化，开发了一种简单有效的倾转方法。我们可以根据最低强度阴影图像的位置计算样品的取向差角，并将其倾转到晶带轴。该方法不需要样品的先验知识，可校正的最大取向差角大于±6.9度，精度达到亚毫弧度。它在实空间中进行，无需记录样品的衍射图案，可有效应用于纳米晶材料。结合控制显微镜的脚本，我们可以在低剂量条件（<0.17 e-/A2/s）下自动将样品倾转到晶带轴，这有助于对沸石或金属有机框架等束敏感材料进行成像。这种自动倾转方法有助于通过STEM成像对纳米晶材料进行原子尺度表征。
引用
@article{arxiv.2406.00948,
title = {Real-space tilting method for atomic resolution STEM imaging of nanocrystalline materials},
author = {Jiake Wei and Zhangze Xu and Wenjie Shen and Bin Feng and Ryo Ishikawa and Naoya Shibata and Yuichi Ikuhara and Xuedong Bai},
journal= {arXiv preprint arXiv:2406.00948},
year = {2024}
}