基于 Zernike 矩的 STEM 成像中对称性定量化与分割
材料科学
2024-05-29 v1
摘要
我们提出了一种利用 Zernike 矩对扫描透射电子显微镜 (STEM) 图像中的旋转和反射对称性进行定量化的方法,旨在改进材料原子尺度结构分析。该技术对常见的成像噪声有效,可能适用于低剂量成像和识别量子缺陷。我们展示了其在对 TaS 扭曲双层材料中多态分离中的应用,实现了对结构相的准确区分和监测由电子束效应引起的相变。该方法增强了对晶体材料结构变化的分析,标志着材料科学中结构表征的重要进展。
引用
@article{arxiv.2405.17519,
title = {Symmetry quantification and segmentation in STEM imaging through Zernike moments},
author = {Jiadong Dan and Cheng Zhang and Xiaoxu Zhao and N. Duane Loh},
journal= {arXiv preprint arXiv:2405.17519},
year = {2024}
}
备注
16 pages, 6 figures