推进扫描透射电子显微镜层析成像的纳米材料数据集
介观与纳米尺度物理
2016-06-10 v1 仪器与探测器
摘要
随着对纳米材料进行三维（3D）表征的需求增加，材料科学中的电子层析成像得到了蓬勃发展。获取实验数据对于开发和验证提高分辨率并降低辐射剂量要求的重建方法至关重要。本工作提供了五个高质量的扫描透射电子显微镜（STEM）层析成像数据集，以满足该领域对开放获取数据的迫切需求。这些数据集代表了当前实验技术的极限，质量高，且包含具有结构复杂性的材料。其中包括超支化Co2P纳米晶体的层析系列、在完整180度倾转范围内成像的碳纳米纤维上的铂纳米颗粒、通过等斜率层析成像以原子分辨率成像的铂纳米颗粒和钨针，以及PtCu纳米颗粒的焦距倾转系列。提供了每个数据集的体积重建，用于比较和开发后处理及可视化技术。对创建新颖数据处理和重建算法感兴趣的研究人员现在将能够获得最先进的实验测试数据。
引用
@article{arxiv.1606.02938,
title = {Nanomaterial datasets to advance tomography in scanning transmission electron microscopy},
author = {Barnaby D. A. Levin and Elliot Padgett and Chien-Chun Chen and M. C. Scott and Rui Xu and Wolfgang Theis and Yi Jiang and Yongsoo Yang and Colin Ophus and Haitao Zhang and Don-Hyung Ha and Deli Wang and Yingchao Yu and Hector D. Abruna and Richard D. Robinson and Peter Ercius and Lena F. Kourkoutis and Jianwei Miao and David A. Muller and Robert Hovden},
journal= {arXiv preprint arXiv:1606.02938},
year = {2016}
}
备注
3 figures, 10 datasets