基于亚采样四维 STEM 数据的锂离子正极材料计算模拟 ptychography
材料科学
2023-09-29 v1 信号处理
计算物理
摘要
由于商业上对电池正极等复杂材料性质研究的迫切需求，高质量扫描透射电子显微镜（STEM）数据的获取与分析变得愈发重要；然而，能够提升分辨率和样品信息的多维技术（如四维 STEM）最终受限于材料的束损伤特性或结果的信噪比。亚采样通过保持高信号但将剂量分布于样品上从而降低损伤，为此问题提供了解决方案。出于这些原因，我们提出一种四维 STEM 的亚采样方法，其可利用该数据中的冗余性来恢复与真值功能一致的结果。我们将这些思路应用于 LiMnO2 样品的模拟四维 STEM 数据集，并利用 12.5% 亚采样获得了高质量的相位图像重建。
引用
@article{arxiv.2307.06138,
title = {In silico Ptychography of Lithium-ion Cathode Materials from Subsampled 4-D STEM Data},
author = {Alex W. Robinson and Amirafshar Moshtaghpour and Jack Wells and Daniel Nicholls and Zoe Broad and Angus I. Kirkland and Beata L. Mehdi and Nigel D. Browning},
journal= {arXiv preprint arXiv:2307.06138},
year = {2023}
}
备注
3 pages, 2 figures