透射电子显微镜中的结构指纹识别：纳米晶体鉴定的概述及增强策略实施机遇
材料科学
2007-06-15 v1
摘要
本文阐述了纳米晶体结构指纹识别方法的前景需求。综述了现有的通过透射电子显微镜进行晶体结构指纹识别的方法，这些方法适用于样品测角仪的单一设置。针对涉及纳米晶体和新型仪器的情况，即当运动学或准运动学散射近似得到充分满足时，提出了如何增强其中一些方法的建议。简要概述了一种基于高分辨率相位衬度透射电子显微镜图像傅里叶变换的纳米晶体晶格条纹指纹识别新策略。讨论了该策略应用受限于纳米晶体结构的特定问题。呼吁通过互联网自由共享纳米晶体的结构数据，并提及了能够实现这种共享的基础设施。本文的较短版本已被接受发表在《晶体学杂志》(Zeitschrift fuer Kristallographie) 关于纳米晶体结构的特刊上，该刊是涵盖晶体材料结构、物理和化学方面的国际期刊。
引用
@article{arxiv.0706.2021,
title = {Structural fingerprinting in the transmission electron microscope: Overview and opportunities to implement enhanced strategies for nanocrystal identification},
author = {Peter Moeck and Philip Fraundorf},
journal= {arXiv preprint arXiv:0706.2021},
year = {2007}
}
备注
24 pages, 113 references, 7 footnotes (with some more references), 1 figure