纳米制图学：分析电子显微镜中迈向成功规划的方略
材料科学
2022-05-10 v1
摘要
随着材料体系日益多样、分析技术不断扩充，以及下一代仪器高昂的资本成本，在电子显微镜中快速高效地收集数据已成为成功数据分析的关键。因此，本研究提出一种纳米制图学方法，将预测性载台运动与晶体学信息相结合，为显微工作者提供样品图谱，既能缩短分析时间，又能提升对所收集数据的信心。拥有与微观结构(如界面与生长方向)和晶体学取向数据(如特定极与面)相关联的载台位置路线图，使显微工作者能够以最少的信息在极小尺度上求解取向关系、创建斜倾序列电影，并解决复杂的晶体学未知问题。最重要的是，它可将任意样品取向关系跨显微镜转换，从而提升整个领域的优化与协作。
引用
@article{arxiv.2205.03956,
title = {Nanocartography: Planning for success in analytical electron microscopy},
author = {Matthew Olszta and Kevin Fiedler},
journal= {arXiv preprint arXiv:2205.03956},
year = {2022}
}
备注
This has been submitted to Microscopy and Microanalysis as a review article. There are 32 figures and 7 supplemental figures