利用 X 射线散射技术研究纳米结构
材料科学
2020-04-07 v1
摘要
受纳米材料种类繁多及广泛应用驱使,对其结构的研究引起了广泛关注。特别是,实验室与大型设施中不断改进的仪器设备,加上可用于研究从外延纳米材料、纳米晶薄膜与涂层,到纳米颗粒和胶体纳米晶体等各种纳米结构的方法学改进,使我们能够更详细地理解其结构性质。由于结构本质上决定了材料的物理性质,这推进了结构研究的可能性,并使人们能够更深入地理解结构与性质之间的关系。在这期题为“利用 X 射线散射技术研究纳米结构”的特刊中,五篇稿件展示了各个研究领域的最新进展。这些稿件涵盖的主题十分广泛,包括磁性多层膜的中子散射、有机薄膜的外延取向、纳米颗粒排列与化学成分分析,以及纳米聚焦 X 射线束与电学测量的结合。
引用
@article{arxiv.2004.02721,
title = {Investigation of Nanostructures with X-ray Scattering Techniques},
author = {Dominik Kriegner and Milan Dopita},
journal= {arXiv preprint arXiv:2004.02721},
year = {2020}
}
备注
Editorial, 3 pages