振荡剪切下纳米颗粒聚集体的时间分辨 X 射线显微术
软凝聚态物质
2008-12-08 v1
摘要
在目前所有具有纳米级分辨率的探测技术中，只有 X 射线显微术能对悬浮液中的纳米颗粒进行成像。它是否也能用于研究结构动力学？在研究对机械刺激的响应时，挑战在于以与空间分辨率相当的精度施加这些刺激。在 X 射线显微镜中进行的首次剪切实验中，我们通过将压电致动器驱动的剪切池插入扫描透射 X 射线显微镜 (STXM) 的焦平面来实现这一点。由此，可以在悬浮液中演示磁铁矿纳米颗粒聚集体的剪切诱导重组。由于 X 射线显微术被证明适合研究结构变化，小长度尺度物理学的新前景得以开启。
引用
@article{arxiv.0812.1143,
title = {Time-resolved X-ray microscopy of nanoparticle aggregates under oscillatory shear},
author = {G. K. Auernhammer and K. Fauth and B. Ullrich and J. Zhao and M. Weigand and D. Vollmer},
journal= {arXiv preprint arXiv:0812.1143},
year = {2008}
}
备注
submitted to J. Synchrot. Radiat