高分辨率无振动时序扫描透射 X 射线显微镜的超采样技术
仪器与探测器
2026-05-27 v2
摘要
扫描透射 X 射线显微镜（STXM）是一种纳米级成像技术，可利用几种强大的对比机制进行定量映射化学和物理材料属性。已演示出软 X 射线能范围内的 7~nm 空间分辨率。STXM 高分辨率成像的一个限制因素是样本相对于聚焦光学的定位精度，而当前最先进的技术在低像素驻留时间时会导致显著的开销，并且容易受到不可避免的外部振动源的影响。在本工作中，我们提出了一种称为超采样扫描显微镜的方法，显著减少了开销时间，同时消除了振动噪声的影响，通过以显著高于振动频谱的速率对样本位置进行采样，并从记录的位置和探测器计数中重构样本透射图像。我们通过一组示范性高分辨率成像实验展示了该技术的性能。
关键词
引用
@article{arxiv.2512.17366,
title = {Supersampled scanning transmission X-ray microscopy for high-resolution vibration-independent time-resolved imaging},
author = {Simone Finizio and Benjamin Watts and Benedikt Rösner and Tim A. Butcher and Sebastian Wintz and Markus Weigand and Jörg Raabe},
journal= {arXiv preprint arXiv:2512.17366},
year = {2026}
}