高温超导薄膜与器件的激光扫描显微镜研究
超导电性
2009-09-14 v1 材料科学
摘要
本工作描述了激光扫描显微镜 (LSM) 作为一种空间分辨测试高 Tc 材料与器件方法的能力。简要回顾了作者先前获得的结果。展示了 LSM 的一些新应用，包括射频模式下高温超导响应的成像、探测高温超导单晶的超导性质，以及双光束激光扫描显微镜的开发。通过 LSM 成像证明了高温超导材料中相位滑移线电阻机制的存在。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0512582,
title = {Laser Scanning Microscopy of HTS Films and Devices},
author = {A. P. Zhuravel and A. G. Sivakov and O. G. Turutanov and A. N. Omelyanchouk and Steven M. Anlage and A. V. Ustinov},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0512582},
year = {2009}
}
备注
17 pages, 21 figures, Submitted to Fizika Nizkikh Temperatur (Low Temperature Physics)