用于研究绝缘基底上纳米结构的长程扫描隧道显微镜
介观与纳米尺度物理
2015-06-17 v4 仪器与探测器
摘要
扫描隧道显微镜 (Scanning Tunneling Microscope, STM) 是研究原子尺度电子性质的有力工具，然而其相对较小的扫描范围以及仅能在导电样品上操作的事实，阻碍了其应用于由导电和绝缘区域组成的非均匀样品的研究。在此，我们展示了一种长程扫描隧道显微镜，它能够利用基于针尖与样品之间电容的技术检测绝缘基底上的导电微纳结构，并进行 STM 研究。
引用
@article{arxiv.1309.5350,
title = {Long-range Scanning Tunneling Microscope for the study of nanostructures on insulating substrates},
author = {Aday Molina-Mendoza and José Gabriel Rodrigo and Joshua Island and Enrique Burzuri and Gabino Rubio-Bollinger and Herre S. J. van der Zant and Nicolás Agraït},
journal= {arXiv preprint arXiv:1309.5350},
year = {2015}
}
备注
3 pages, 7 figures