绝缘衬底上石墨烯的扫描隧道显微镜与光谱学研究
介观与纳米尺度物理
2012-04-18 v1
摘要
石墨烯是一种真正的二维材料，具有优异的电子、机械和光学性质。正因如此，它仅由表面构成，可以通过成熟的表面科学技术（例如扫描隧道显微镜）进行探测。该方法弥合了表面科学界与电子器件界之间的鸿沟，并可能带来新颖的联合方法。本文回顾了在单层石墨烯样品上进行的扫描隧道显微镜（STM）和扫描隧道光谱（STS）实验。我将重点关注沉积在绝缘衬底上的石墨烯样品，因为这些与石墨烯器件概念相关。特别地，我将讨论 SiO 及其他新兴衬底上石墨烯的形貌、利用 STM 进行的一些纳米机械操纵实验，以及光谱学结果。后者可以绘制无序势以及电子与无序的相互作用，这在量子霍尔区制中最为显著。
引用
@article{arxiv.1204.3817,
title = {Scanning Tunneling Microscopy and Spectroscopy of Graphene on Insulating Substrates},
author = {Markus Morgenstern},
journal= {arXiv preprint arXiv:1204.3817},
year = {2012}
}
备注
Review, 12 pages