金属上石墨烯的扫描探针显微术与谱学研究
材料科学
2015-03-30 v1 介观与纳米尺度物理
摘要
石墨烯是一种具有独特电子性质的二维 (2D) 材料，似乎是应用表面科学方法的理想对象。其中，扫描探针显微术系列方法（STM、AFM、KPFM）及其相应的谱学附件提供了关于局部尺度（从纳米到原子）上金属上石墨烯的结构和电子性质的信息。本综述聚焦于这些显微/谱学方法在研究金属上石墨烯（界面、类插层体系、石墨烯纳米带和量子点等）方面的最新应用。研究表明，可以在局部尺度上获得关于石墨烯/金属界面相互作用强度以及费米能级处石墨烯电子谱修饰的重要信息。将这些结果与其他方法获得的结果相结合，并与最新的理论数据进行比较，证明了该方法在研究石墨烯基系统方面的强大能力。
引用
@article{arxiv.1502.00411,
title = {Scanning probe microscopy and spectroscopy of graphene on metals},
author = {Yuriy Dedkov and Elena Voloshina and Mikhail Fonin},
journal= {arXiv preprint arXiv:1502.00411},
year = {2015}
}
备注
Feature Article in pss (b)