石墨烯畴表面电势测量的标准化
介观与纳米尺度物理
2013-05-03 v1
摘要
我们比较了三种最常用的扫描探针技术，以获得不同厚度石墨烯畴中功函数的可靠值。通过结合电功能显微镜和光谱技术，在霍尔棒几何结构中直接测量石墨烯的表面电势 (SP)，从而实现了对石墨烯畴功函数的校准测量，单层和双层的值分别约为 eV 和 eV。我们证明了调频开尔文探针力显微镜 (FM-KPFM) 比调幅 (AM)-KPFM 能提供更准确的 SP 测量。讨论了不同技术获得的实验结果之间的差异。此外，我们利用 FM-KPFM 对器件电阻的特定分量进行了非接触测量。我们展示了电极 - 石墨烯接触电阻的强非欧姆行为，并提取了石墨烯沟道电阻率。
引用
@article{arxiv.1305.0465,
title = {Standardization of surface potential measurements of graphene domains},
author = {Vishal Panchal and Ruth Pearce and Rositza Yakimova and Alexander Tzalenchuk and Olga Kazakova},
journal= {arXiv preprint arXiv:1305.0465},
year = {2013}
}