轻敲模式原子力显微镜测量石墨烯及少层石墨晶体厚度的异常
介观与纳米尺度物理
2009-09-29 v1 材料科学
摘要
轻敲（间歇接触）模式下的原子力显微镜（AFM）是测量氧化硅表面上石墨烯和少层石墨烯（FLG）薄片厚度的常用工具。它是快速确定单个FLG薄膜厚度的便捷工具。然而，文献报道显示石墨烯层测量厚度存在很大差异。本文重点研究测量石墨烯和FLG厚度时轻敲模式AFM（TAFM）的成像机制，我们表明在某些测量参数下，FLG薄片的测量厚度会引入显著偏差。当使用选择不当的轻敲悬臂自由振幅值范围时，可观察到FLG微晶的测量高度增加多达1 nm。我们对选定的单层和多层石墨烯薄膜进行了拉曼光谱和TAFM的对比测量，并在此基础上提出了使用TAFM正确测量石墨烯和FLG厚度的方法。
引用
@article{arxiv.0812.0690,
title = {Anomalies in thickness measurements of graphene and few layer graphite crystals by tapping mode atomic force microscopy},
author = {P. Nemes-Incze and Z. Osvath and K. Kamaras and L. P. Biro},
journal= {arXiv preprint arXiv:0812.0690},
year = {2009}
}