摩擦力显微镜：一种在粗糙基底上识别石墨烯及绘制铜上石墨烯晶粒取向的简易技术
材料科学
2015-06-12 v2
摘要
由于石墨烯仅为单原子厚度，利用传统技术将其与基底区分开来极具挑战性。本文表明，摩擦力显微镜 (FFM) 是一种简单快捷的技术，可用于在从生长基底到粗糙绝缘体等一系列样品上识别石墨烯。我们展示了 FFM 在表征铜上生长的石墨烯时尤为有效，它能够将石墨烯生长与三维表面形貌相关联，并以无损、可重复且高分辨率的方式绘制石墨烯的晶体学取向。我们预期 FFM 在研究其他金属/局部晶体基底（包括 SiC）上的石墨烯生长，以及研究二硫化钼和六方氮化硼等其他二维材料的生长方面同样有效。
引用
@article{arxiv.1302.0177,
title = {Friction force microscopy: a simple technique for identifying graphene on rough substrates and mapping the orientation of graphene grains on copper},
author = {Alexander J. Marsden and Mick Phillips and Neil R. Wilson},
journal= {arXiv preprint arXiv:1302.0177},
year = {2015}
}