铁电表面电扫描探针成像与修改

Sergei V. Kalinin; Dawn A. Bonnell

铁电表面电扫描探针成像与修改

材料科学 2007-05-23 v1

作者: Sergei V. Kalinin , Dawn A. Bonnell

摘要

电子扫描探针显微镜用于表征铁电材料的表面行为。局部电荷密度对铁电表面的化学与物理的影响得到了探讨。通过变温扫描表面势显微镜评估了吸附的动力学与热力学参数。详细分析了PZT力学显微镜(PFM)的对比形成机制，并确定了电弹性常数对响应幅值的贡献。阐明了包括压痕力和探针曲率半径等实验条件对PFM对比图样的影响。发展了一种用于PFM中非局部势棒-表面相互作用的简单定量准则。

关键词

扫描探针显微镜铁电表面 PZT力学显微镜电荷密度表面势

引用

@article{arxiv.cond-mat/0301535,
  title  = {Electric scanning probe imaging and modification of ferroelectric surfaces},
  author = {Sergei V. Kalinin and Dawn A. Bonnell},
  journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0301535},
  year   = {2007}
}

备注

43 pages, 21 figures, to be published in "Nanoscale characterization of ferroelectric materials", Ed. A. Gruverman and M. Alexe

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