接触模式电压调制扫描探针显微镜中的电致伸缩与静电响应
材料科学
2015-06-19 v1 介观与纳米尺度物理
摘要
固体的机电响应是包括压电响应力显微镜 (PFM) 和电化学应变显微镜 (ESM) 在内的多种扫描探针显微镜技术成像机制的基础。虽然线性压电和离子响应理论已发展成熟，但包括电致伸缩和电容性针尖 - 表面力在内的二次效应对测量信号的贡献仍知之甚少。在此，我们分析了电致伸缩和电容效应对 PFM 和 ESM 信号的贡献，并讨论了介电针尖 - 表面间隙对这些相互作用的影响。
引用
@article{arxiv.1403.1225,
title = {Electrostrictive and electrostatic responses in contact mode voltage modulated Scanning Probe Microscopies},
author = {Eugene A. Eliseev and Anna N. Morozovska and Anton V. Ievlev and Nina Balke and Peter Maksymovych and Alexander Tselev and Sergei V. Kalinin},
journal= {arXiv preprint arXiv:1403.1225},
year = {2015}
}
备注
15 pages, 5 figures, 3 tables, Supplementary materials