压电力显微镜中的动态行为
材料科学
2015-06-25 v1
摘要
本文通过建模与实验测量相结合的方式，分析了在光束偏转式原子力显微镜（AFM）上实现的压电力显微镜（PFM）中与频率相关的动态行为。PFM信号包含来自作用于针尖的局部静电力、作用于悬臂的分布力以及机电响应矢量的三个分量的贡献。这些相互作用导致悬臂的弯曲和扭转，分别被检测为垂直和横向PFM信号。这些贡献的相对大小取决于系统的几何参数、针尖-表面结的刚度和摩擦力以及工作频率。分析了PFM中的动态信号形成机制，并提出了优化PFM成像的条件。实验上实现了利用频率偏置光谱探测悬臂动力学以及对机电和静电对比度进行反卷积的方法。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0509427,
title = {Dynamic Behavior in Piezoresponse Force Microscopy},
author = {Stephen Jesse and Arthur P. Baddorf and Sergei V. Kalinin},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0509427},
year = {2015}
}
备注
65 pages, 15 figures, high quality version available upon request