基于压电致伸缩力学显微镜的铁电域成像定量分析
材料科学
2016-08-31 v1
摘要
研究铁电域通过压电致伸缩力学显微镜（PFM）成像的对比机制。提出一种新型的 PFM 测量分析方法，考虑实验装置引入的背景信号。这使我们能够首次进行域对比的定量、频率无关分析，结果与基于压电变形的预期值良好一致，且满足 PFM 成像通常要求的特征。
关键词
引用
@article{arxiv.cond-mat/0510005,
title = {Quantitative analysis of ferroelectric domain imaging with piezoresponse force microscopy},
author = {T. Jungk and A. Hoffmann and E. Soergel},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0510005},
year = {2016}
}