利用扫描力显微镜探测铁电畴的对比度机制

我们对利用扫描力显微镜探测块体单晶所有面上铁电畴的对比度机制进行了全面分析，并以六角形极化的铌酸锂为例进行了说明。畴对比度可归因于三种不同的机制：i) 由于面外压电响应导致的样品厚度变化（标准压电响应力显微镜），ii) 由于面内压电响应导致的样品表面横向位移，以及 iii) 由晶体学 y 面和 z 面上的表面电荷引起的畴边界处的静电针尖 - 样品相互作用。通过对悬臂梁相对于样品晶体学轴取向的运动进行仔细分析，可以清晰地将观察到的畴对比度归因于各自的驱动力。