重新审视横向压电响应力显微镜的衬度机制
应用物理
2023-05-09 v1 材料科学
摘要
压电响应力显微镜（PFM）已广泛用于压电特性与铁电畴的纳米尺度分析。尽管 PFM 因其简单且无损的特性而有用，但 PFM 测量可能受到非压电效应的干扰，这些效应会影响 PFM 信号或导致非铁电材料中出现类铁电行为。许多研究已探讨相关技术问题，但主要聚焦于垂直 PFM。在此，我们研究了横向 PFM 信号在正向与回扫扫描之间的显著差异，该差异与扫描角度及悬臂横向倾斜偏差成正比。PFM 信号的差异基于本征与 extrinsic 分量进行分析，包括面外压电响应、静电力及其他因素。我们的研究将有助于实现精确 PFM 测量以可视化铁电面内极化分布。
引用
@article{arxiv.2305.03864,
title = {Revisiting contrast mechanism of lateral piezoresponse force microscopy},
author = {Jaegyu Kim and Seongwoo Cho and Jiwon Yeom and Seongmun Eom and Seungbum Hong},
journal= {arXiv preprint arXiv:2305.03864},
year = {2023}
}
备注
38 pages, 18 figures