利用压电力显微镜测定压电常数的局限性
材料科学
2009-11-13 v1
摘要
乍一看，压电力显微镜（PFM）似乎是测定压电系数（PC）的理想技术，因为它具有超高垂直分辨率（<0.1 pm/V）。Christman 等人 \cite{Chr98} 首次将 PFM 用于此目的。然而，他们的测量仅获得了精度不理想的合理结果，部分原因是设置校准不正确。本文给出了一种可靠的校准程序，并仔细分析了使用 PFM 测定 PC 时遇到的困难。我们指出了解决这些困难的不同方法，并揭示了为什么在没有大量投入的情况下，这些困难是无法避免的。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0703402,
title = {Limitations for the determination of piezoelectric constants with piezoresponse force microscopy},
author = {T. Jungk and A. Hoffmann. and E. Soergel},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0703402},
year = {2009}
}