利用扫描探针显微技术研究氧化物表面与界面的纳米尺度电学现象
材料科学
2007-05-23 v1 介观与纳米尺度物理
摘要
扫描探针显微技术被用于研究和量化两类氧化物系统中的纳米尺度电学现象，即电活性晶界处的输运和铁电材料的表面行为。扫描阻抗显微技术被开发用于研究界面的电容和局部 C-V 特性，它将传统 SPM 的空间分辨率与常规电学测量的精度相结合。对 SrTiO3 晶界的 SPM 测试结合变温阻抗谱和 I-V 测量，使得发现并从理论上论证了钛酸锶中电活性界面附近介电常数的场抑制效应。类似的方法被用于研究多种多晶氧化物的铁电性质以及交流和直流输运行为。在第二部分，研究了局部电荷密度对铁电表面化学和物理的影响。通过变温 SPM 评估了吸附的动力学和热力学参数。压电响应力显微镜被用于在铁电表面上构建畴图案。铁电表面的局部光化学活性被探索作为制备金属纳米结构的新工具。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0209599,
title = {Nanoscale Electric Phenomena at Oxide Surfaces and Interfaces by Scanning Probe Microscopy},
author = {Sergei V. Kalinin},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0209599},
year = {2007}
}
备注
Ph.D. Thesis, September 2002, 304 pages, 108 figures, 2.4 MB PDF file, Higher quality version available at sergei2.kalininweb.com