导电氧化物界面的高灵敏度变温红外纳米显微术
强关联电子
2019-06-25 v1 介观与纳米尺度物理
摘要
探测限域于埋藏界面的二维电子系统(2DES)的局域输运性质，需要一种在宽温区工作且具有高空间分辨率的非侵入式技术。本文中，我们研究散射型扫描近场光学显微镜作为从室温至 6 K 研究导电 LaAlO3/SrTiO3 界面的工具。我们表明近场光学信号，特别是其相位分量，对界面处电子系统的输运性质高度敏感。我们的建模揭示此种敏感性源于 AFM 针尖与具有小穿透深度的耦合等离子体-声子模式的相互作用。该模型使我们能定量地将光学信号的变化与由冷却和静电门控引起的 2DES 输运性质变化相关联。为探测该技术的空间分辨率，我们对绝缘异质结构中用偏压原子力显微镜针尖写入的导电纳米通道进行了成像。
引用
@article{arxiv.1905.05062,
title = {High sensitivity variable-temperature infrared nanoscopy of conducting oxide interfaces},
author = {Weiwei Luo and Margherita Boselli and Jean-Marie Poumirol and Ivan Ardizzone and Jeremie Teyssier and Dirk van der Marel and Stefano Gariglio and Jean-Marc Triscone and Alexey B. Kuzmenko},
journal= {arXiv preprint arXiv:1905.05062},
year = {2019}
}
备注
19 pages, 5 figures