LaAlO3/SrTiO3 界面手绘导电纳米结构的直接成像
介观与纳米尺度物理
2018-01-17 v1
摘要
利用导电探针尖在 LaAlO3/SrTiO3 (LAO/STO) 界面处对准二维电子气进行纳米尺度调控，推动了多种电子器件的发展。尽管电导的空间分布对此类器件至关重要，但直接可视化埋藏界面的局域电学性质颇具挑战。在此，我们展示利用微波阻抗显微镜 (MIM) 对 LAO/STO 界面上手绘纳米结构进行电导成像，其横向分辨率约为 100 nm。由 MIM 数据提取的面电导与输运测量一致。我们观察到在 +4 V 阈值电压以上发生针尖诱导的绝缘体到金属转变。我们的工作为通过探测纳米尺度电导分布来研究氧化物界面处的涌现现象铺平了道路。
引用
@article{arxiv.1711.10077,
title = {Direct Imaging of Sketched Conductive Nanostructures at the LaAlO3/SrTiO3 Interface},
author = {Zhanzhi Jiang and Xiaoyu Wu and Hyungwoo Lee and Jung-Woo Lee and Jianan Li and Guanglei Cheng and Chang-Beom Eom and Jeremy Levy and Keji Lai},
journal= {arXiv preprint arXiv:1711.10077},
year = {2018}
}
备注
12 pages, 4 figures