利用扫描离子电导显微镜探测纳米孔：一项模拟研究
化学物理
2024-10-30 v1 材料科学
摘要
在薄固态纳米孔的介质击穿过程中，施加高电压可能导致单个芯片上形成多个纳米孔，其数量和尺寸对其应用至关重要。本研究通过模拟来复现利用扫描离子电导显微镜（SICM）进行原位纳米孔探测的研究。结果表明，SICM能够提供精确的纳米孔位置和相对孔径。探测分辨率受所用探针尺寸以及探针与膜之间距离的影响，在大电压或浓度梯度下分辨率可得到提升。
引用
@article{arxiv.2410.21327,
title = {Detection of Nanopores with the Scanning Ion Conductance Microscopy: A Simulation Study},
author = {Yinghua Qiu and Long Ma and Zhe Liu and Hongwen Zhang and Bowen Ai and Xinman Tu},
journal= {arXiv preprint arXiv:2410.21327},
year = {2024}
}
备注
22 pages, 6 figuers