利用可见光谱范围内的近场光学显微镜探测局域介电函数
材料科学
2021-11-10 v2 应用物理
摘要
纳米尺度系统（如碳纳米管 (CNTs)、石墨烯纳米带和过渡金属二硫族化物 (TMDCs)）的光电性质由其介电函数决定。这一复杂的、依赖于频率的函数受激子共振、电荷转移效应、掺杂、样品应力与应变以及表面粗糙度的影响。掌握介电函数即可获知材料的透射与吸收特性。本文引入双扫描近场光学显微镜 (dual s-SNOM)，用于对局域介电变化进行成像，并利用数学反演方法提取介电函数值。为演示该方法，我们研究了块体 Au 上的单层 WS，并识别出两个具有不同电荷转移水平的区域。我们的测量结果由原子力显微镜 (AFM)、开尔文力探针显微镜 (KPFM)、光致发光 (PL) 强度映射和针尖增强光致发光 (TEPL) 所证实。我们从 s-SNOM 图像中提取了局域介电变化，并通过光谱成像椭偏仪 (SIE) 测量确认了所得值的可靠性。
引用
@article{arxiv.2108.04573,
title = {Probing the Local Dielectric Function by Near Field Optical Microscopy Operating in the Visible Spectral Range},
author = {Oisín Garrity and Alvaro Rodriguez and Niclas S. Mueller and Otakar Frank and Patryk Kusch},
journal= {arXiv preprint arXiv:2108.04573},
year = {2021}
}