压电力显微镜中非场域铁电滞回环的静电效应

压电力显微镜（PFM）通过探测样品表面的局域机电响应，已被广泛用作理解和分析纳米尺度铁电/压电性质的多功能且不可或缺的工具。然而，已发现机电响应不仅源于压电性，还源于静电效应等其他因素。在本研究中，我们通过在测量过程中对底电极施加外电压，探究典型铁电薄膜中非场域 PFM 滞回环对表面电势诱导静电效应的依赖关系。我们通过将表面电势等同于直流电压波形变化来简化情形，并预测表面电势诱导静电效应对 PFM 滞回环的贡献。实验结果近似符合我们的预测——矫顽电压随表面电势线性下降，而由于铁电薄膜相对较大的压电系数，饱和振幅与压电响应几乎保持不变。