压电响应力显微镜中的畴动力学：定量反卷积与电滞回线精细结构
材料科学
2009-11-13 v1
摘要
本研究结合局部电滞回线采集与同步畴成像，探讨了压电响应力谱 (PFS) 实验中的畴动力学。开发了针对任意截面畴的 PFS 信号解析理论，并用于分析 Pb(Zr,Ti)O3 多晶薄膜的实验数据。结果表明，在畴成核和生长的早期阶段形成了扁球状畴，这与材料内部退极化场的有效屏蔽相一致。电滞回线的精细结构被证明与畴壁传播过程中观察到的畴几何形状跃变（纳米尺度巴克豪森跃变）有关，这表明存在强烈的畴 - 缺陷相互作用。
引用
@article{arxiv.0803.0647,
title = {Domain Dynamics in Piezoresponse Force Microscopy: Quantitative Deconvolution and Hysteresis Loop Fine Structure},
author = {I. Bdikin and A. Kholkin and A. N. Morozovska and S V. Svechnikov and S. -H. Kim and S. V. Kalinin},
journal= {arXiv preprint arXiv:0803.0647},
year = {2009}
}
备注
17 pages, 3 figures, 2 Appendices, to be submmited to Appl. Phys. Lett