还原氧化石墨烯所得异质石墨烯的统计拉曼显微术与原子力显微术研究
化学物理
2018-05-14 v1 应用物理
摘要
氧化石墨烯可用作石墨烯的前驱体，但石墨烯薄片的质量高度不均一。扫描拉曼显微术（SRM）用于表征由碳骨架几乎完整的氧化石墨烯薄片（ai-GO）衍生而来的石墨烯薄膜。通过分析最显著拉曼峰的强度和半高全宽，详细可视化这些薄片的缺陷密度。此外，我们将 SRM 结果与 AFM 图像叠加，并将光谱结果与形貌相关联。进而，我们利用 SRM 技术展示石墨烯薄膜中的缺陷量。由此，以 1 {\mu}m 的步长增量探测了 250 x 250 {\my}m2 面积的石墨烯。我们能够可视化石墨烯薄片、边缘以及基底的位置。最后，我们改变测量参数以快速可靠地分析石墨烯质量。所述方法可用于探测和可视化石墨烯薄膜的质量。
引用
@article{arxiv.1805.04248,
title = {Statistical-Raman-Microscopy and Atomic-Force-Microscopy on Heterogeneous Graphene Obtained after Reduction of Graphene Oxide},
author = {Siegfried Eigler and Ferdinand Hof and Michael Enzelberger-Heim and Stefan Grimm and Paul Müller and Andreas Hirsch},
journal= {arXiv preprint arXiv:1805.04248},
year = {2018}
}