等离子体辅助单层磷烯的制备及其拉曼表征
材料科学
2014-04-04 v1
摘要
人们一直在不断努力寻找具有高性能的新型功能二维半导体，以应用于未来的纳米电子学和光电子学领域。在本工作中，我们介绍了一种成功的实验方法，通过机械剥离 followed by Ar+ 等离子体减薄工艺来制备单层磷烯。磷烯的厚度通过光学衬度结合原子力显微镜 (AFM) 得到了明确测定。拉曼光谱被用于表征原始样品和等离子体处理后的样品。随着磷烯厚度减小至单层，A2g 模式的拉曼频率发生硬化，且 A2g 与 A1g 模式的强度比呈现出单调的离散增加。所有这些现象均可用于有效识别这种新型二维半导体的厚度。本工作关于单层磷烯的制备和厚度测定将促进磷烯的研究。
引用
@article{arxiv.1404.0742,
title = {Plasma-assisted fabrication of monolayer phosphorene and its Raman characterization},
author = {Wanglin Lu and Haiyan Nan and Jinhua Hong and Yuming Chen and Chen Zhu and Zheng Liang and Xiangyang Ma and Zhenhua Ni and Chuanhong Jin and Ze Zhang},
journal= {arXiv preprint arXiv:1404.0742},
year = {2014}
}