绝缘衬底上原子层的定量拉曼光谱与可靠厚度识别
介观与纳米尺度物理
2013-08-20 v1 材料科学
摘要
我们证明了在常见的堆叠实验构型中量化样品层和衬底层拉曼强度的可能性，并据此提出了一种用于介电衬底上原子尺度层的通用且快速的厚度识别技术。我们收集了原子级平整 MoS2 薄片前所未有的宽范围拉曼数据，并与理论模型进行了对比。我们揭示，当包含光学干涉效应时，所有强度特征均可被准确捕捉。令人惊讶的是，我们发现即使是自由悬浮的硫族化合物少层薄片，其拉曼响应也强于块体相。重要的是，尽管样品光谱强度随厚度振荡，但经衬底加权的光谱强度呈现单调性。结合其对样品厚度的敏感性，我们建议该量可用于快速确定原子层的精确厚度。
引用
@article{arxiv.1308.3835,
title = {Quantitative Raman Spectrum and Reliable Thickness Identification for Atomic Layers on Insulating Substrates},
author = {Song-Lin Li and Hisao Miyazaki and Haisheng Song and Hiromi Kuramochi and Shu Nakaharai and Kazuhito Tsukagoshi},
journal= {arXiv preprint arXiv:1308.3835},
year = {2013}
}