少层MoS2薄片中层间剪切模式的拉曼光谱研究
材料科学
2012-09-19 v2 介观与纳米尺度物理
摘要
单层和少层MoS2最近作为一种有趣的新型光电子材料系统引起了关注。在这里，我们报告了对通过剥离制备的少层MoS2薄片的扫描拉曼测量。我们观察到一个对应于相邻层刚性剪切振荡的拉曼模式。该模式出现在20到30相对波数之间的非常低的拉曼位移处。其位置强烈依赖于层数，我们通过AFM测量和其他特征拉曼模式的研究独立确定了层数。因此，剪切模式的拉曼光谱是确定少层MoS2薄片层数的有用工具。
引用
@article{arxiv.1205.1916,
title = {Raman spectroscopy of the interlayer shear mode in few-layer MoS2 flakes},
author = {G. Plechinger and S. Heydrich and J. Eroms and D. Weiss and Schüller and T. Korn},
journal= {arXiv preprint arXiv:1205.1916},
year = {2012}
}
备注
4 pages, 3 figures, submitted to Applied Phys. Lett